試作基板のデバッグとテストの改善策

試作基板のデバッグとテストの改善策

第8回 実態調査から見える実装基板のトレンドと検査の課題

チップ部品はどのサイズが主流でしょうか? 2021年2月4日に、エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会が主催した公開研究会が初のオンライン

試作基板のデバッグとテストの改善策

第7回 「JTAGテストとHALTを活用した品質保証の取り組み」

  「HALT」をご存知ですか? HALTは、1980年代に米国で発案され、欧米を中心に航空機、自動車、電気製品部品の信頼性評価に

試作基板のデバッグとテストの改善策

第6回 BGA実装基板の検査の課題を解決したJTAGテストの活用事例

  国内企業でJTAGテストはどのように使われているか 今回は、JTAGテストのユーザーである「アズビル太信株式会社 販売促進部 

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試作基板のデバッグとテストの改善策

第5回 テストパッド削減とデバッグに役立つJTAGテストの活用事例

  その基板、テストパッドを半分にできますか? 製品の高性能化と小型化が進み、基板のレイアウト設計にあたっては部品の配置とパターン

試作基板のデバッグとテストの改善策

第4回 テスト範囲を最大化する「DFTサイクル」とは

  回路図の色は何を意味しているかわかりますか? 回路図のFPGAのI/Oピンにマーキングされた色は、何を意味しているか分かります

試作基板のデバッグとテストの改善策

第3回 試作基板のデバッグで困らない。テスト容易化設計の5つのポイント

  試作BGA基板6枚中3枚に不具合が発生。どのように解決しますか? 写真1をご覧ください。この試作基板には、BGA部品が2つ実装