試作基板のデバッグとテストの改善策

試作基板のデバッグとテストの改善策

第9回 デバッグとテストの課題を解決する検査手法

前回ご紹介した実態調査の結果は、大変多くの反響をいただきました。検査と製造不良の再発防止についての皆さまの課題や取り組みは、実態調査と比較し

試作基板のデバッグとテストの改善策

第8回 実態調査から見える実装基板のトレンドと検査の課題

チップ部品はどのサイズが主流でしょうか? 2021年2月4日に、エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会が主催した公開研究会が初のオンライン

試作基板のデバッグとテストの改善策

第7回 JTAGテストとHALTを活用した品質保証の取り組み

  「HALT」をご存知ですか? HALTは、1980年代に米国で発案され、欧米を中心に航空機、自動車、電気製品部品の信頼性評価に

試作基板のデバッグとテストの改善策

第6回 BGA実装基板の検査の課題を解決したJTAGテストの活用事例

  国内企業でJTAGテストはどのように使われているか 今回は、JTAGテストのユーザーである「アズビル太信株式会社 販売促進部 

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第5回 テストパッド削減とデバッグに役立つJTAGテストの活用事例

  その基板、テストパッドを半分にできますか? 製品の高性能化と小型化が進み、基板のレイアウト設計にあたっては部品の配置とパターン

試作基板のデバッグとテストの改善策

第4回 テスト範囲を最大化する「DFTサイクル」とは

  回路図の色は何を意味しているかわかりますか? 回路図のFPGAのI/Oピンにマーキングされた色は、何を意味しているか分かります