試作基板のデバッグとテストの改善策
試作基板のデバッグとテストの改善策
第5回 テストパッド削減とデバッグに役立つJTAGテストの活用事例
その基板、テストパッドを半分にできますか？ 製品の高性能化と小型化が進み、基板のレイアウト設計にあたっては部品の配置とパターン
試作基板のデバッグとテストの改善策
第4回 テスト範囲を最大化する「DFTサイクル」とは
回路図の色は何を意味しているかわかりますか？ 回路図のFPGAのI/Oピンにマーキングされた色は、何を意味しているか分かります
試作基板のデバッグとテストの改善策
第3回 試作基板のデバッグで困らない。テスト容易化設計の5つのポイント
試作BGA基板6枚中3枚に不具合が発生。どのように解決しますか？ 写真1をご覧ください。この試作基板には、BGA部品が2つ実装
試作基板のデバッグとテストの改善策
第2回 BGAのはんだ不良を見つける。本来のJTAGとは？
「.ccfファイル」から基板テスト用のデータが自動生成できることを知っていますか？ 「JTAG（ジェイタグ）」という言葉を聞いたことがあると
試作基板のデバッグとテストの改善策
第1回 試作基板のBGA部品が動かない！？
突然ですが、なんの写真か分かりますか？ はじめまして、「Club-Z」で連載を担当させていただきますアンドールシステムサポート