高密度化する電子機器回路のテスト工程を大幅に向上！「不良が見える」バウンダリ スキャン・テストとは？
2018年07月25日※ このページの最後に『エレクトロニクス実装技術』寄稿記事PDFダウンロード用リンクがあります。
先月、東京ビッグサイトで開催された「2018 マイクロエレクトロニクスショー」にて、新設された “eX-tech2018” / バウンダリスキャンゾーンに出展しました。
この記事では、今回の新規出展の背景や、国内ではまだ認知度が高くないバウンダリスキャンの概要などを、本規格の普及や日本発標準化提案などを目的に設立された「バウンダリスキャン研究会」の幹事を務める 株式会社図研 EDA事業部 AIグループ 松澤 浩彦 に語ってもらいました。
バウンダリスキャン・テストの概要、そして近年、特に日本での対応状況について、あまり馴染みのない読者様にも解るように教えてください。また、今回バウンダリスキャン研究会として “eX-tech2018” へ出展することになった経緯もお願いします。
今回ブースで説明されていた内容についてですが、図研の Design Gatewayとベンダー各社のシステムとの連携で、どのようにテスト工程が効率化されるのでしょう？
もちろん、提供されるテストライブラリが充実していると、テストプログラムの開発・保守の工数を軽減でき、設計・開発のデバッグから量産検査、不良解析にまで一貫して活用することができます。
従来の基板検査工程でのTATを短くするためには、より設計部門と検査部門とが協調して、BSテストに取り組むことで、AOIも含めた検査工程でのカバー率の向上が見込めます。
テスト環境を提供するCR-8000 Design Gateway
上記システムの詳細などについては、ぜひ ↓ ↓ ↓ こちらから ↓ ↓ ↓ お問い合わせください。
また、『エレクトロニクス実装技術』2017年7月号に掲載された「DfT(Design for Testing)実現に向けたEDの取り組み」記事PDFを、こちらからダウンロードしていただけます。
※ 記事データ提供協力：Gichoビジネスコミュニケーションズ株式会社様
【ご参考】
今回出展したBS研究会メンバー所属事業体のラインアップと出展概要、図研との関係などについて
１. 愛媛大学様：
２. 徳島大学様：
図研のCRには、先方の「JTAG ProVision」とのI/Fがあります。
JTAGテストの基礎が分かる 入門セミナー＜無料＞
JTAGテスト お客様の導入事例集
４. 富士設備工業株式会社様：
図研のCRには、先方の「JTAG BSテスター」とのI/Fがあります。
５. 株式会社図研：
