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　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　第182号　2021年3月23日配信
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　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 株式会社 図研
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☆ Contents
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■ 技術情報コラム
　●「試作基板のデバッグとテストの改善策」
　　　第7回「JTAGテストとHALTを活用した品質保証の取り組み」
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└■ 技術情報コラム
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┃●「試作基板のデバッグとテストの改善策」
┃　　第7回「JTAGテストとHALTを活用した品質保証の取り組み」
┃ 
┃ 製品仕様を超える「強いストレス」を製品に与え、その稼働限界と破壊限界を見つける
┃ HALT (Highly Accelerated Limit Test) により、信頼性向上と製品寿命の延長が可能と
┃ なります。これを JTAGテストと組み合わせることで、評価用基板を用意しなくても
┃ 量産基板でテストでき、不良箇所を短時間で特定。信頼性向上と製品寿命の延長が可能
┃ となります。HALT試験、さらにJTAGテストと組み合わせたメリットをご紹介します。
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┃ ⇒ https://club-z.zuken.co.jp/tech-column/20210323_and_007.html
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└■ 編集後記
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　このほど話題になっている「ジャーナリング・アプリ」を使い始めました。日記のよう
　にその日の想いを選択・記述すると、適度な頻度でAIが内容を読み解いて、メッセージ
　をくれたりするんです。仕事疲れやSNS疲れなどで、内省すること自体が安らぎになる
　のではないかと感じます。ちなみに、「nCZさんは、Twitter見てる限りなんとか疲れ
　とかなさそうですよね」って言ったら、えらく反論されました。はい、お疲れ様です…。
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　四代目編集長：ヒルコ
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